Новая терагерцовая технология позволяет "заглянуть" внутрь кристаллов полупроводниковых чипов

19-06-2016, 09:42 Группа ученых из университета Эксетера (University of Exeter), университета Глазго (University of Glasgow) и компании QinetiQ разработала технологию, которая позволяет видеть сквозь кремниевые положки и производить поиски крошечных дефектов, возникших в ходе производства кристаллов полупроводниковых чипов. В качестве доказательства работоспособности технологии ученые произвели изучение кремниевого кристалла с подложкой, толщиной 115 микрометров, а дефекты были обнаружены за счет регистрации аномалий в движении электронов в полупроводниковом материале, которое возникает под воздействием терагерцового излучения.